18013570085
功能及特點：
手持式四探針測試儀能夠測量半導體材料體電阻率ρ、方塊電阻（薄片電阻率）R 口，按國家標準和美國A.S.T.M標準設計，專門測量半導體薄層電阻（表面電阻率）的新型儀器。 可用于測量一般半導體材料、導電薄膜（FTO/ITO導電膜玻 璃）、金屬膜……等同類物質的薄層電阻（表面 電阻率）。
1、輕便手持式設計操作、測試簡便；
2、特制之手握式探筆，球形探針、鍍金探針有效接觸被測材料及保護薄膜；
3、以大屏幕LCD顯示讀數，直觀清晰；
4、測量范圍：按方塊電阻量值大小分為二個量程檔 方塊電阻 1.00～199.99Ω/□；
5、最小分辨率：0.01Ω/□
手持式四探針測試儀能夠測量半導體材料體電阻率ρ、方塊電阻（薄片電阻率）R 口，按國家標準和美國A.S.T.M標準設計，專門測量半導體薄層電阻（表面電阻率）的新型儀器。 可用于測量一般半導體材料、導電薄膜（FTO/ITO導電膜玻 璃）、金屬膜……等同類物質的薄層電阻（表面 電阻率）。
1、輕便手持式設計操作、測試簡便；
2、特制之手握式探筆，球形探針、鍍金探針有效接觸被測材料及保護薄膜；
3、以大屏幕LCD顯示讀數，直觀清晰；
4、測量范圍：按方塊電阻量值大小分為二個量程檔 方塊電阻 1.00～199.99Ω/□；
5、最小分辨率：0.01Ω/□
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