功能及特點:
手持式四探針測試儀能夠測量半導體材料體電阻率ρ、方塊電阻(薄片電阻率)R 口,按國家標準和美國A.S.T.M標準設計,專門測量半導體薄層電阻(表面電阻率)的新型儀器。 可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(FTO/ITO導電膜玻 璃)、金屬膜……等同類物質的薄層電阻(表面 電阻率)。
1、輕便手持式設計操作、測試簡便;
2、特制之手握式探筆,球形探針、鍍金探針有效接觸被測材料及保護薄膜;
3、以大屏幕LCD顯示讀數,直觀清晰;
4、測量范圍:按方塊電阻量值大小分為二個量程檔 方塊電阻 1.00~199.99Ω/□;
5、最小分辨率:0.01Ω/□
手持式四探針測試儀能夠測量半導體材料體電阻率ρ、方塊電阻(薄片電阻率)R 口,按國家標準和美國A.S.T.M標準設計,專門測量半導體薄層電阻(表面電阻率)的新型儀器。 可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(FTO/ITO導電膜玻 璃)、金屬膜……等同類物質的薄層電阻(表面 電阻率)。
1、輕便手持式設計操作、測試簡便;
2、特制之手握式探筆,球形探針、鍍金探針有效接觸被測材料及保護薄膜;
3、以大屏幕LCD顯示讀數,直觀清晰;
4、測量范圍:按方塊電阻量值大小分為二個量程檔 方塊電阻 1.00~199.99Ω/□;
5、最小分辨率:0.01Ω/□

18013570085








QQ客服